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小光束扫描狭缝轮廓仪：硅探测器，3.5mm 孔径，1.8µm 狭缝
描述：
这种 NanoScan 扫描狭缝轮廓分析系统使用其硅探测器准确捕获和分析 190nm - 1100nm 的波长。它具有适用于小光束的狭缝尺寸、近乎实时的数据采集速率、可选的功率测量功能，并在 CW 或 kHz 脉冲模式下运行，非常适合对 UV、可见光和 NIR 激光进行综合分析。
规格：
190-1100nm
7μm - 2.3mm
USB 2.0
硅
CW，脉冲 >25kHz
~10nW - ~10W
1.8微米
3.5毫米
83毫米
CE、UKCA、中国 RoHS
